贵金属检测仪

XF-S8贵金属检测仪是西凡仪器针对贵金属行业推出的一款专用检测万足金的旗舰X射线荧光光谱仪支持贵金属成分检测和液体浓度检测，可广泛应用于珠宝首饰工厂、实验室、检测站和回收等行业和单位。亥产品采用先进的进口定制** Fast-SDD 探测器，内置十二核工控电脑，采用 X 射线与可见光共焦点光路设计和全新的 Smart FP 算法。检测速度快，测试稳定性好、准确性高，适用范围广。

一、贵金属检测仪XF-S8外观展示

二、贵金属检测仪XF-S8优势特点：

元素检测范围: 铝(No.13)~ 铀(No.92)

可支持*多 30 个元素同时计算

分析范围: 0.0010%~99.9999%

检测精度: ±0.001%(99999 金)

支持多点连续测试，测试效率高

三准直器，多滤光片自动切换

任意方向可见辐射警告灯

遵守 GB/T16921，ISO3497:2000，ASTM-B658，IEC62321 标准

三、贵金属检测仪XF-S8产品规格

产品包装尺寸: 565mmx535mmx500mm

产品尺寸: 450mmx422mmx378mm

样品舱尺寸: 366mmx336mmx141mm

额定功率:<150W

毛重: 61KG (包含显示器、UPS 等)

净重: 39KG

噪音: 50dB

使用环境:

温度: 15°C~31°C

湿度: <70% (不结露)

四、贵金属检测仪XF-S8核心部件

探测器: AMPTEK 定制** Fast-SDD 探测器，面积: 25mm2，分辨率: 125+5eV。

内置工控电脑: Intel i5 十二核+Windows11

高压电源: 50KV/1mA 数字高压电源

X射线管: 50KV/1mA

窗口材料:镀窗

靶材:钨

焦点: 0.1mm

准直器: 0.5mm/10mm/ 2.0mm

五、贵金属检测仪XF-S8测试示例