XRF-K5贵金属检测仪是西凡仪器针对贵金属成分检测的一款X射线荧光光谱仪,可广泛应用于黄金回收、珠宝首饰工厂、展厅和银行等行业和单位。该产品自带IPS液晶屏及电容触摸屏及采用美国进口定制Si-PIN探测器,内置i3十核CPU工控电脑,采用45度角光路以及全新的Smart FP算法。检测速度快,测试稳定性好、准确性高,性价比极高。
贵金属检测仪XRF-K5产品特点
元素检测范围:钾K(No.19)~铀U(No.92)
可支持*多30个元素同时计算
分析范围:0.010%~99.999%
检测精度:±0.03%(9999金)
检测样品:贵金属合金/液体
定制TCP/IP协议API接口,支持外网对设备的控制、状态监控及数据采集
支持多点连续测试,测试效率高
软件界面简洁明了,支持多种自定义报告
贵金属检测仪XRF-K5核心部件
探测器:AMETEK定制版Si-PIN探测器
探测器面积:6mm2
分辨率:145±5eV
内置工控电脑:Intel i3十核电脑+win11系统
高压电源:50KV/1mA数字高压电源
X射线管:50KV/1mA
窗口材料:玻璃窗
靶材:钨
焦点:ϕ 0.5mm
准直器:ϕ2.0mm
贵金属检测仪XRF-K5规格
输入电压:AC100~240V,50Hz
产品包装尺寸:566mmx531mmx560mm
产品尺寸:420mmx350mmx300mm
样品舱尺寸:297mmx294mmx80mm
额定功率:150W
毛重:51KG(包含UPS)
净重:32KG
噪音:<50dB
使用环境:
温度:15℃~31℃
湿度:<70%(不结露)
贵金属检测仪XRF-K5软件截图