贵金属检测仪
贵金属检测仪XF-S7
元素检测范围：铝(No.13)~ 铀(No.92)
检测精度：±0.01%（9999金）
探测器：进口Fast SDD探测器
内置工控电脑： Intel i5十二核电脑+win11系统
准直器：ϕ1.5mm
光路系统：90度垂直光路
在线咨询 检测精度：±0.01%（9999金）
探测器：进口Fast SDD探测器
内置工控电脑： Intel i5十二核电脑+win11系统
准直器：ϕ1.5mm
光路系统：90度垂直光路
该款贵金属检测仪XF-S7是西凡西凡仪器2020全新款，一款可以测戒指内圈成分的贵金属检测仪，自主研发生产的X射线荧光光谱检测仪之一，是一款高端配置的全元素高端检测仪。它配备了进口Fast SDD探测器拥有十多项研发专利，性能突出，采用进口Fast SDD探测器，搭载ARM Cortex-A53四核处理器，Linux操作系统。
贵金属检测仪XF-S7的主要参数：
核心特征：可测戒指内圈+高**度±0.01%
**度: ±0.01%（9999金）
整机分辨率：130±5eV
探测器： 进口Fast SDD探测器
适用温度： -11~46℃
规格尺寸：467×370×336(mm)
样品腔：310×248×124(mm)
主体结构：高强度金属支架+铝合金外壳
电脑操作系统：Intel i5十二核电脑+win11系统
热敏打印机：支持
天平/密度仪：支持
电池支持：否
样品可视：支持（铅玻璃）
电压： 100V～240V
额定功率：150W
重量：40公斤
