镀层测厚仪

XF-P3镀层测厚仪是西凡仪器针对镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪，可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器、PCB等行业。该产品使用进口定制Fast SDD探测器，内置四核CPU工控电脑，运行Smart FP算法。无需标样，可同时检测镀层厚度和成分，可支持10层检测，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。

一、镀层测厚仪XF-P3产品特点

l元素检测范围：铝(No.13)～铀(No.92)          

l可支持十层检测

l可同时支持镀层厚度和成分检测

l检出限：1nm(厚度)，2ppm(成分)

l检测精度：相对误差±1.5%(镀层）

±0.01%(成分)

l定制TCP/IP协议API接口，支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集

l遵守GB/T16921, ISO3497 : 2000, ASTM-B568标准。

l三准直器,多滤光片自动切换

lXY平面微动平台，行程：30mm×30mm

l铅玻璃窗口，方便观察样品

二、镀层测厚仪XF-P3核心部件

l探测器：AMPTEK定制版Fast SDD探测器

n面积：25mm², 分辨率：125±5eV

l内置工控电脑：Intel I5四核+Win11系统

l高压电源：50KV/1mA数字高压电源

lX射线管：50KV/1mA

n窗口材料：铍窗；靶材：钨

n焦点：ϕ 0.1mm

l准直器：0.1×0.2mm/ ϕ0.35mm/ ϕ1.5mm

三、镀层测厚仪XF-P3软件测试截图