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多功能XRF光谱仪

多功能XRF光谱仪XF-S6 2024
元素检测范围:铝(No.13)~铀(No.92)
检测精度:±0.01%(9999金)
探测器:进口Fast-SDD探测器
内置工控电脑: i5十二核工控电脑
准直器:ϕ0.5mm/ ϕ1.5mm
光路系统:第二代准直光路
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  • 产品详情

    XF-S6 2024检测仪是西凡仪器在2024年针对S6的一款升级版X射线荧光光谱仪,可广泛应用于贵金属产业链、电镀产业链、宝石产业链等行业。该产品采用美国进口定制Fast-SDD探测器,多准直器多滤光片,内置12核十二线程CPU工控电脑,采用西凡第二代X射线与可见光共焦点垂直光路以及Smart FP算法。其同时支持贵金属成分分析、宝石成分分析、RoHS检测、镀层厚度分析、矿石成分分析和离子浓度分析等,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。


    一、多功能XRF光谱仪XF-S6 2024产品特点

    l元素检测范围:(No.13)~铀(No.92)          

    l可支持*多30个元素同时计算

    l可支持4层镀层厚度及合金镀层分析

    l可支持宝石人工/天然分析

    l分析范围:

    u成分分析:0.010%~99.999%

    u厚度分析:0.001um~80um

    u浓度分析:5微克/升~200/升

    l检测精度:

    u贵金属:±0.01%(9999)

    u镀层厚度:RSD<1.5%

    u浓度:RSD<1.5%

    l检测样品:贵金属合金/镀层/宝石/珍珠/液体/矿石粉末/RoHS

    l定制TCP/IP协议API接口,支持外网对设备的控制、状态监控及数据采集

    l支持多点连续测试,测试效率高

    l选装10工位转盘,自动连续测试10个样品



    二、多功能XRF光谱仪XF-S6 2024核心配件

    l探测器:AMETEK定制版Fast-SDD探测器

    n探测器面积:25mm2

    n分辨率:125±5eV

    l内置工控电脑:Intel i5十二核电脑+win11系统

    l高压电源:50KV/1mA数字高压电源

    lX射线管:50KV/1mA

    n窗口材料:铍窗

    n靶材:钨

    n焦点:ϕ 0.1mm

    l准直器:ϕ0.5mm+ϕ1.5mm



    多功能XRF光谱仪XF-S6 2024软件测试截图


    ROHS-中文图谱.png


    红宝石中文.png



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